電子顯微鏡經過幾十年的發展，已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。超薄切片技術是電子顯微鏡觀察中必不可少的製樣環節。近些年，隨著科學技術的發展，超薄切片技術也從常溫向低溫、二維向三維邁進。這次的主軸集中介紹 SEM 3D 超薄切片重建流程，包含製備、收片與 SEM 拍攝重建等內容。
歡迎全校師生蒞臨參加本次Cuesta收片系統工作坊，若對講習有任何相關問題，可撥打校內分機#5065與何小姐聯繫。
◆3D樣品前處理與 SYM Cuesta 收片系統介紹 (口頭報告):
日期: 2025年12月17日(星期三)
時間: 10:00 - 11:00
地點: 第一醫學大樓4樓B區-顯微鏡中心-0459室
◆新世代生物掃描式電子顯微鏡應用-Volume EM 及 Correlative Microscopy (口頭報告):
日期: 2025年12月17日(星期三)
時間: 11:00 - 12:00
地點: 第一醫學大樓4樓B區-顯微鏡中心-0459室
主講: 卡爾蔡司-應用工程師 范綱祐 先生
◆實機操作:
日期: 2025年12月17日(星期三)
時間: 14:00-17:00
地點: 第一醫學大樓4樓B區-顯微鏡中心
主講: 密涅瓦科技-儀器專員 林少軒 先生
※由於場地空間有限，敬請提早報名，建議各實驗室可派代表參加。
線上報名網址:
https://forms.gle/iLweuu9SZ28uz6zA8
※請各位老師同學們於12/16 (二)前回覆，謝謝配合。
